Ero TEM n ja SEM n välillä

TEM vs. SEM

Sekä SEM (pyyhkäisyelektronimikroskooppi / mikroskopia) että TEM (läpäisevä elektronimikroskooppi / mikroskopia) viittaavat sekä instrumenttiin että elektronimikroskopiassa käytettyyn menetelmään..

Näiden kahden välillä on useita samankaltaisuuksia. Molemmat ovat elektronimikroskooppityyppejä ja antavat mahdollisuuden nähdä, tutkia ja tutkia näytteen pieniä, subatomisia hiukkasia tai koostumuksia. Molemmat käyttävät myös elektroneja (erityisesti elektronisuihkuja), atomin negatiivisen varauksen. Lisäksi molemmat käytössä olevat näytteet on ”värjättävä” tai sekoitettava tietyn elementin kanssa kuvien tuottamiseksi. Näistä välineistä tuotetut kuvat ovat erittäin suurennettuja ja niiden resoluutio on korkea.

SEM: llä ja TEM: llä on kuitenkin myös joitain eroja. SEM: ssä käytetty menetelmä perustuu sironneisiin elektroneihin, kun taas TEM perustuu lähetettyihin elektroneihin. SEM: n sironneet elektronit luokitellaan takaisinsironneiksi tai sekundaarielektroneiksi. TEM: ssä ei kuitenkaan ole muuta elektronien luokitusta.

SEM: ssä hajonneet elektronit tuottivat näytteen kuvan sen jälkeen, kun mikroskooppi on kerännyt ja laskenut sironneet elektronit. TEM: ssä elektronit osoittavat suoraan kohti näytettä. Näytteen läpi kulkevat elektronit ovat kuvassa valaistuja osia.
Myös analyysin painopiste on erilainen. SEM keskittyy näytteen pintaan ja sen koostumukseen. Toisaalta TEM pyrkii näkemään, mikä on pinnan sisällä tai sen ulkopuolella. SEM näyttää myös näytteen kerrallaan, kun taas TEM näyttää näytteen kokonaisuutena. SEM tarjoaa myös kolmiulotteisen kuvan, kun taas TEM toimittaa kaksiulotteisen kuvan.

Suurennuksella ja erottelukyvyllä TEM: llä on etuna SEM: ään verrattuna. TEM: n suurennustaso on jopa 50 miljoonaa, kun taas SEM: n suurennustaso on vain 2 miljoonaa. TEM: n resoluutio on 0,5 angströmiä, kun taas SEM: ssä on 0,4 nanometriä. SEM-kuvissa on kuitenkin parempi syväterävyys verrattuna TEM: n tuottamiin kuviin.
Toinen ero pisteessä on näytteen paksuus, ”värjäys” ja valmisteet. TEM: n näyte leikataan ohuemmaksi kuin SEM-näyte. Lisäksi SEM-näyte “värjätään” elementillä, joka tarttuu sironneet elektronit.

SEM: ssä näyte valmistetaan erikoistuneilla alumiinirunkoilla ja asetetaan instrumentin kammion pohjalle. Näytteen kuva projisoidaan CRT- tai televisiomaiselle näytölle.
Toisaalta TEM edellyttää näytteen valmistamista TEM-ruudukkoon ja sijoittamista mikroskoopin erikoistuneen kammion keskelle. Kuva tuotetaan mikroskoopilla loisteputkien kautta.

Toinen SEM: n piirre on, että aluetta, johon näyte asetetaan, voidaan kiertää eri kulmissa.
TEM kehitettiin aikaisemmin kuin SEM. Max Knoll ja Ernst Ruska keksivät TEM: n vuonna 1931. SEM luotiin vuonna 1942. Se kehitettiin myöhemmin koneen skannausprosessin monimutkaisuuden vuoksi..

Yhteenveto:

1.Both SEM ja TEM ovat kahta tyyppiä elektronimikroskooppeja ja ovat työkaluja pienten näytteiden tarkastelemiseen ja tutkimiseen. Molemmat instrumentit käyttävät elektroneja tai elektronisäteitä. Molemmissa työkaluissa tuotetut kuvat ovat erittäin suurennettuja ja tarjoavat korkean resoluution.
2.Kun jokainen mikroskooppi toimii, on hyvin erilainen kuin toinen. SEM skannaa näytteen pinnan vapauttamalla elektroneja ja panemalla elektroneja pomppimaan tai sirumaan iskun aikana. Kone kerää sironneet elektronit ja tuottaa kuvan. Kuva visualisoidaan televisiomaisella näytöllä. Toisaalta TEM prosessoi näytteen ohjaamalla elektronisuihkun näytteen läpi. Tulos nähdään fluoresoivalla näytöllä.
3.Kuvat ovat myös ero työkalun välillä. SEM-kuvat ovat kolmiulotteisia ja edustavat tarkkaa esitystä, kun taas TEM-kuvat ovat kaksiulotteisia ja saattavat edellyttää hieman tulkintaa. Tarkkuuden ja suurennuksen suhteen TEM: llä on enemmän etuja verrattuna SEM: iin.